바로가기 메뉴
본문 바로가기
푸터 바로가기
TOP

Thin-film thickness profile measurement using wavelet transform in wavelength-scanning interferometry

저자

YM Hwang, SW Yoon, JH Kim, S Kim, HJ Pahk

저널 정보

Optics and Lasers in Engineering, Vol. 46, No. 2, 2008, pp. 179-184

출간연도

2008