바로가기 메뉴
본문 바로가기
푸터 바로가기
Korean

서울대학교 박희재 명예교수

사이트맵
TOP

Real-time application of critical dimension measurement of TFT-LCD pattern using a newly proposed 2D image-processing algorithm

저자

JH Lee, YS Kim, SR Kim, IH Lee, HJ Pahk

저널 정보

Optics and Lasers in Engineering, Vol. 46, No. 7, 2008, pp. 558-569

출간연도

2008

링크

https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0143816608000134

목록 보기