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서울대학교 박희재 명예교수

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Precise Edge Detection Method Using Sigmoid Function in Blurry and Noisy Image for TFT-LCD 2D Critical Dimension Measurement

저자

Seung Woo Lee, Sin Yong Lee, Heui Jae Pahk

저널 정보

Current Optics and Photonics Vol. 2, No. 1, 2018, pp. 69-78

출간연도

2018

링크

https://koreascience.or.kr/article/JAKO201809361759107.pdf

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