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서울대학교 박희재 명예교수

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Enhancing Battery Exterior Defect Inspection Accuracy Through Defect-Background Separated GAN Development

저자

D Ku, HJ Pahk

저널 정보

IEEE Access, Vol. 12, 2024, pp. 44286-44305

출간연도

2024

링크

https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=10477991

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