바로가기 메뉴
본문 바로가기
푸터 바로가기
Korean

서울대학교 박희재 명예교수

사이트맵
TOP

78. ANGLE RESOLVED SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETER USING SPATIAL LIGHT MUDULATOR AND THICKNESS MEASURING METHOD FOR THIN FILM

Inventors

Patent office

Korea

Patent number

10-20230057766

Issue date

Link

목록 보기